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用于智能化工厂高速检测的共焦线传感器
借助 CHRocodile CLS 2.0，您能够以很高的速度测量高斜率和复杂的表面并且避免阴影。高速 3D 共焦线传感器几乎可以对所有材料，甚至是难以测量的材料
进行高度精 确的测量，并且分辨率很高。
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其通用性确保能够合格完成各种测量。更重要的是，CHRocodile CLS 2.0 还有助于降低运营成本，节省时间，并确保工业 4.0 应用中的 100% 控制。
除此之外还有*重要的一项优势，那就是高速 3D 共焦线传感器 CHRocodile CLS 2.0 比其他替代设备更小、更轻。
在半导体行业的应用: 引线键合检测、凸点测量、包装晶圆边缘检查、切割槽检查、缺陷、裸片裂缝、光掩膜光刻。
在消费电子领域的进一步应用: 外壳形貌检查，轻微、中等和高度弯曲表面的检查、倒角和转角检查、直径/孔/梯形表面检查、特殊高度物体的外观检查。
优势
——高速度、高精度
凭借 2,160 万个测量点和每秒高达 36,000 行的扫描速度，CHRocodile CLS 2.0 非常适合对周期时间要求极高的在线质量控制应用。同时，这种传感器提供的数据具有非常高的横向和轴向分辨率，可实现精准测量。
——高度灵活
这种共焦线传感器的通用性可满足各种测量需求，例如，形貌结构和厚度测量、成分、分层、透明材料下的表面，以及复杂的几何形状。即使是难以测量的材料，例如漫反射、粗糙、彩色、抛光或反射表面，CHRocodile CLS 2.0 也能高速地进行准确测量。
——无阴影
CHRocodile CLS 2.0 的线性结构与入射光和反射光重叠。因此，在测量特定的几何形状时，不会出现任何问题，而三角反射测量则会出现阴影问题。
——易于更换的光学探头
该传感器配置了三个易于更换的光学探头，仅需轻松转换即可使用合适的探头。您可以选择*长达12 mm 线程的探头，用于大型部件的快速检测，或者选择优 质数值孔径的短线，用于测量高度倾斜的表面，例如测量智能手机、电池或手表显示玻璃的倒角。
——点密度高
CHRocodile CLS 2.0 以每行 1,200 个点的密度来扫描物体。结合与像素间距相当的横向高分辨率和良好的轴向分辨率，可以获得高密度的必要信息和优 质的测量结果。
技术数据
测量速度：*高每秒 36,000 行
测量范围：680 - 10600 µm*
横向分辨率：1 - 8.5 µm*
与外部设备同步：触发输入，同步输出，5 个编码器输入，动态链接库 (DLL) 示例代码
* 具体取决于使用的光学探头